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納米顆粒沉積“搭橋”電子傳輸:肖特基勢壘調(diào)控開啟新一代半導(dǎo)體器件新紀元
2025-07-26

在納米電子學(xué)與能源轉(zhuǎn)換領(lǐng)域,如何突破傳統(tǒng)半導(dǎo)體器件的效率瓶頸?納米顆粒沉積技術(shù)通過精準調(diào)控金屬-半導(dǎo)體界面的肖特基勢壘高度(SchottkyBarrierHeight,SBH),為光催化、太陽能電池及高靈敏度傳感器等前沿應(yīng)用提供了革命性解決...

  • 2023-07-16

    鐵電測試儀是一種用于測量材料鐵電性質(zhì)的設(shè)備。鐵電性質(zhì)是指某些特殊材料在外加電場下會發(fā)生可逆的自發(fā)極化現(xiàn)象。這種材料具有許多重要應(yīng)用,例如壓電器件、存儲器和傳感器等。鐵電測試儀通常由以下幾個主要組成部分組成:1.供應(yīng)系統(tǒng):提供穩(wěn)定而精確的直流...

  • 2023-07-12

    測色儀是一種用于測量物體顏色的儀器。它通過檢測物體反射、透射或發(fā)射的光譜數(shù)據(jù),然后根據(jù)這些數(shù)據(jù)計算出物體的顏色數(shù)值。測色儀通常包括以下幾個主要部分:1.光源:提供光線以照亮待測試的樣品。常見的光源有白熾燈、熒光燈和LED等。2.探頭:與待測...

  • 2023-06-24

    一、薄膜測厚儀的基本原理薄膜測厚儀主要是利用光學(xué)干涉法,即將被測物體與參考面之間形成等距空氣隙,當入射光在空氣和物體表面之間反彈時產(chǎn)生兩束反射光,在相遇處會發(fā)生疊加干涉現(xiàn)象。通過檢測干涉條紋的數(shù)量來確定光路差,從而計算出被測物體的厚度。二、...

  • 2023-06-20

    鐵電分析儀是一種專門用于測試材料鐵電性能的儀器,它主要利用極化電場和交變電場來產(chǎn)生、測量材料的鐵電性質(zhì)。本文將對鐵電分析儀的技術(shù)原理、應(yīng)用以及發(fā)展趨勢等方面進行詳細介紹。一、技術(shù)原理1.鐵電效應(yīng)在某些晶體中存在著一種特殊的極化現(xiàn)象,即當外加...

  • 2023-05-25

    鐵電材料測試儀是一種用于測試鐵電性能的專用儀器。鐵電材料是一種具有電介質(zhì)和鐵磁性質(zhì)的特殊材料,具有獨特的電學(xué)和物理性質(zhì),被廣泛應(yīng)用于存儲器、傳感器、激光器等領(lǐng)域。測試鐵電性能需要掌握相關(guān)的理論知識和實驗技術(shù),鐵電材料測試儀的出現(xiàn)為鐵電性能測...

  • 2023-05-16

    薄膜測厚儀是一種用于測量薄膜厚度的儀器,能夠精確地測量薄膜的厚度及其表面形貌等參數(shù)。本文將介紹薄膜測厚儀的原理、技術(shù)特點及應(yīng)用范圍。一、原理薄膜測厚儀采用多種不同的原理進行薄膜厚度測量。其中,常用的原理是反射光學(xué)原理和X射線衍射原理。反射光...

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